介電強(qiáng)度、絕緣、耐壓試驗(yàn)的區(qū)別

介電強(qiáng)度是指給介質(zhì)施加電壓后,當(dāng)電壓超過某一極限值時(shí),通過電介質(zhì)的電流急劇增加,電介質(zhì)的介電性能被破壞,這種現(xiàn)象稱為電介質(zhì)擊穿,這時(shí)的電壓稱為擊穿電壓,相應(yīng)的電場強(qiáng)度稱為電介質(zhì)介電強(qiáng)度

抵抗電擊穿能力的量度。以試樣擊穿電壓值與試樣厚度之比表示。單位為千伏/毫米[伏/米]

絕緣電阻就是說我們通常情況下所說的絕緣材料在沒有被擊穿時(shí)的電阻值.
絕緣電阻：加直流電壓于電介質(zhì)，經(jīng)過一定時(shí)間極化過程結(jié)束后，流過電介質(zhì)的泄漏電流對應(yīng)的電阻稱絕緣電阻。
　　理想的絕緣體是不導(dǎo)電的，即電阻為無窮大，但實(shí)際上絕緣體總是有一定的、很弱的導(dǎo)電能力。絕緣體有阻止電流通過的特性，但若加上高電壓時(shí)，會有少許的漏電流流過絕緣體的內(nèi)部或表面。絕緣電阻是阻止漏電流通過的能力，阻值愈大愈好，通常以百萬歐(MΩ)計(jì)。絕緣電阻會因材質(zhì)劣化、表面附著之有機(jī)物、塵埃及水滴等而減小。
　　

影響絕緣介質(zhì)擊穿的主要原因?qū)τ诮^緣材料,在不損壞其絕緣性能的情況下施加高電壓的過程,稱為耐壓試驗(yàn),在破壞其絕緣強(qiáng)度時(shí)所施加電壓的過程,稱為擊穿試驗(yàn),擊穿時(shí)的zui低電壓值稱為擊穿電壓

在不破壞絕緣材料性能的情況下對絕緣材料或構(gòu)件施加高電壓的過程稱為耐壓試驗(yàn).當(dāng)施加的高壓達(dá)到破壞其絕緣強(qiáng)度時(shí)的過程稱為擊穿試驗(yàn)
對絕緣材料或絕緣結(jié)構(gòu)施加高電壓的過程稱為耐壓試驗(yàn).一般來講,耐壓測試主要目的是檢查絕緣耐受工作電壓或過電壓的能力,進(jìn)而檢驗(yàn)產(chǎn)品設(shè)備的絕緣性能是否符合安全標(biāo)準(zhǔn)
交流、直流電壓在絕緣層中的分布不同，直流電壓是按電導(dǎo)分布的，反映絕緣內(nèi)個(gè)別部分可能發(fā)生過電壓的情況；交流電壓是按與絕緣電阻并存的分布電容成反 比分布的，反映各處分布電容部分可能發(fā)生過電壓的情況。另外，絕緣在直流電壓作用下耐壓強(qiáng)度比在交流電壓下要高。所以，交流耐壓試驗(yàn)與直流耐壓試驗(yàn)不能互相代替。